XTU-4C專業(yè)性能型膜厚儀 下照式微聚焦多準(zhǔn)型，搭載*EFP算法軟件和微光聚集技術(shù)，配合切換準(zhǔn)直器在檢測(cè)各微小及凹凸面樣品時(shí)檢出限更低，儀器壽命更長，性能更穩(wěn)定。

XD-1000高性價(jià)比型膜厚儀 高性價(jià)比上照式光譜測(cè)厚儀，對(duì)各類鍍層厚度分析的同時(shí)可對(duì)電鍍液進(jìn)行分析，適用于各種超大件、異形凹槽件、密集型多點(diǎn)測(cè)試或自動(dòng)逐個(gè)檢測(cè)大量的小部件。測(cè)電鍍檢測(cè)儀器

XD-1000高性價(jià)比型膜厚儀 高性價(jià)比上照式光譜測(cè)厚儀，對(duì)各類鍍層厚度分析的同時(shí)可對(duì)電鍍液進(jìn)行分析，適用于各種超大件、異形凹槽件、密集型多點(diǎn)測(cè)試或自動(dòng)逐個(gè)檢測(cè)大量的小部件。測(cè)量鍍層儀器設(shè)備

XD-1000高性價(jià)比型膜厚儀 高性價(jià)比上照式光譜測(cè)厚儀，對(duì)各類鍍層厚度分析的同時(shí)可對(duì)電鍍液進(jìn)行分析，適用于各種超大件、異形凹槽件、密集型多點(diǎn)測(cè)試或自動(dòng)逐個(gè)檢測(cè)大量的小部件。鍍層厚度測(cè)試儀器

XD-1000高性價(jià)比型膜厚儀 高性價(jià)比上照式光譜測(cè)厚儀，對(duì)各類鍍層厚度分析的同時(shí)可對(duì)電鍍液進(jìn)行分析，適用于各種超大件、異形凹槽件、密集型多點(diǎn)測(cè)試或自動(dòng)逐個(gè)檢測(cè)大量的小部件。鍍層厚度分析儀

XD-1000高性價(jià)比型膜厚儀 高性價(jià)比上照式光譜測(cè)厚儀，對(duì)各類鍍層厚度分析的同時(shí)可對(duì)電鍍液進(jìn)行分析，適用于各種超大件、異形凹槽件、密集型多點(diǎn)測(cè)試或自動(dòng)逐個(gè)檢測(cè)大量的小部件。鍍層厚度分析儀器